مشخصات مقاله:
عنوان فارسی مقاله:
عیب یابی عملیاتی برای تنزل مطبوع سوئیچ های NoC
عنوان انگلیسی مقاله:
Functional Diagnosis for Graceful Degradation of NoC Switches
کلمات کلیدی مقاله:
تست عملیاتی، حالت خرابی عملیاتی، دسته‌بندی خطاها، عیب‌یابی عملیاتی، ایجاد الگو، پیکربندی مجدد دانه‌ریز
مناسب برای رشته های دانشگاهی زیر:
مهندسی کامپیوتر، فناوری اطلاعات و فناوری اطلاعات و ارتباطات
مناسب برای گرایش های دانشگاهی زیر:
سوئیچ، دیتا و امنیت شبکه، سخت افزار و شبکه های کامپیوتری
وضعیت مقاله انگلیسی و ترجمه:
مقاله انگلیسی را میتوانید به صورت رایگان با فرمت PDF از باکس زیر دانلود نمایید. ترجمه این مقاله با فرمت WORD – DOC آماده خریداری و دانلود آنی میباشد.
فهرست مطالب:
چکیده
1. مقدمه
2. مقدمات
A. سوئیچ‌های NoC: ساختار و عملکرد
B. حالات خرابی عملیاتی
3. جریان عیب‌یابی
A. دیکشنری دسته بندی
B. الگوهای تست عملیاتی برای تفکیک پذیری عیب‌یابی بالا
C. تحلیل علائم برای پیکربندی مجدد
4. نتایج تجربی
A. دسته‌بندی
B. الگوهای تست عملیاتی
C. پیکربندی مجدد
V. نتیجه گیری
قسمتی از مقاله انگلیسی و ترجمه آن:
I. INTRODUCTION
Massive integration led to a paradigm shift of using Networks-on-Chip (NoCs) [1] as a scalable communication alternative in recent years. Due to internal redundancies, NoCs are inherently fault tolerant and can be reconfigured in the presence of defective cores, links or switches [2] to operate at a degraded performability level. In today’s massively integrated devices, test and diagnosis time has become a major bottleneck for the time-to-market [3, 4]. To maintain the profit margins, two aspects are deeply of interest: firstly, reducing the test and diagnosis time, while preserving the fault coverage and test efficiency, and secondly integrating fault tolerant features to tolerate the components’ failure in defective chips [5] at a degraded functionality level, known as graceful degradation. In NoCs, several test approaches have been proposed which reduce the test application time while preserving a high structural fault coverage [6–10]. On the other hand, fault tolerant structures such as [2, 11] support individual deactivation of defective switches, links or switch ports.
1. مقدمه
مجتمع‌سازی گسترده منجر به تغییر رویه برای استفاده از شبکه‌روی‌تراشه (NoC) به عنوان یک جایگزین ارتباطی مقیاس‌پذیر در سال‌های اخیر شده است. NoC ها به دلیل افزونه‌های داخلی ذاتا مقاوم به خطا هستند و می‌توانند در حضور هسته‌ها، لینک‌ها یا سوئیچ‌های معیوب مجددا پیکربندی شوند تا در یک سطح عملکردی پایین‌تر کار کنند. در دستگاه‌های بشدت مجتمع امروزی، زمان تست و عیب‌یابی به یک تنگنای اصلی مبدل شده است. برای حفظ حاشیه‌های سود، دو جنبه بشدت مدنظر است: اولین جنبه، کاهش زمان تست و عیب‌یابی با حفظ پوشش‌دهی خطا و بهره‌وری تست است؛ جنبه دوم، مجمتع‌سازی مشخصه‌های مقاومت در برابر خطا برای تحمل کردن خرابی اجزا در تراشه‌های معیوب در یک سطح عملکردی پایین‌تر است که تحت عنوان تنزل مطبوع شناخته می‌شود.
در NoC ها چندین روش تست پیشنهاد شده است که زمان اعمال تست را کاهش می‌دهند و در عین حال، پوشش‌دهی بالای خطای ساختاری حفظ می‌شود. از طرف دیگر، ساختارهای مقاوم در برابر خطا نظیر [2 و 11] از غیرفعال‌سازی مجزای سوئیچ‌ها، لینک‌ها یا پورت‌های سوئیچ معیوب پشتیبانی می‌کنند.