ترجمه مقاله کاربردهای میکروسکوپ الکترونی روبشی در علوم زمین – سال 2015
مشخصات مقاله:
عنوان فارسی مقاله:
کاربردهای میکروسکوپ الکترونی روبشی در علوم زمین
عنوان انگلیسی مقاله:
Applications of scanning electron microscopy in earth sciences
کلمات کلیدی مقاله:
میکروسکوپ الکترونی اسکن، آشکارساز سیگنال، مواد معدنی
مناسب برای رشته های دانشگاهی زیر:
زمین شناسی و فیزیک
وضعیت مقاله انگلیسی و ترجمه:
مقاله انگلیسی را میتوانید به صورت رایگان با فرمت PDF از باکس زیر دانلود نمایید. ترجمه این مقاله با فرمت WORD – DOC آماده خریداری و دانلود آنی میباشد.
فهرست مطالب:
1. اصل اساسی SEM
1.1. ساختار اصلی و طرز کار SEM
1.2. انواع و ویژگیهای سیگنال در SEM
1.3. معرفی مختصر کاربرد SEM در علوم زمین
2. مشخصه های BSE و کاربرد آن در علوم زمین
2.1. مشخصه های BSE
2.2. کاربرد BSE در علوم زمین
3. مشخصه های الکترون ثانویه و کاربرد آن در علوم زمین
3.1. مشخصه های الکترون ثانویه
3.2. کاربرد تصویربرداری الکترون ثانویه در علوم زمین
4. ویژگی اشعه های X مشخصه عنصر و کاربرد آن در علوم زمین
4.1. ویژگی اشعه های X مشخصه عنصر
4.2. کاربرد EDS در علوم زمین
5. ویژگی های CL و کاربرد آن در علوم زمین
5.1. ویژگی های CL
5.2. کاربرد CL در علوم زمین
6. ویژگی های EBSD و کاربرد آن در علوم زمین
6.1. ویژگیهای EBSD
6.2. کاربرد EBSD در علوم زمین
7. نتیجه گیری
قسمتی از مقاله انگلیسی و ترجمه آن:
1 The basic principle of SEM The basic principles of SEM were established by Knoll and von Ardenne (Germany) as well as Zworykin and Hillier (USA), during the 1930s and early 1940s. In 1942, the first SEM instrument was applied to examine thick specimens with a 1 m resolution and was built by Zworykin RCA laboratory in the United States. In 1960, Everhart and Thornley improved the secondary electron detector. Now, the E-T secondary electron detector is the mainstream detector of SEM. Then, SEM entered the commercialization stage. In 1967, the electron channeling contrast that was produced by the interaction of electrons and the lattice pattern was observed. This contrast was developed as the widely used technology of EBSD. In the 1980s, the EDS/WDS analysis began to join with SEM. Because of various mature commercial detectors around SEM, the application of SEM has greatly expanded. In 1990, SEM entered the era of digital imaging.
1. اصل اساسی SEM
اصل اساسی SEM توسط Knoll و Von Ardenne (آلمان)و Zworykin و Hillier (آمریکا)، در طول دهه 1930 و اوایل دهه 1940 استقرار یافت. در سال 1924 ، اولین دستگاه SEM که در آزمایشگاه RCA Zworykin در ایالات متحده ساخته شده بود برای بررسی نمونه های ضخیم با وضوح 1 μm مورد استفاده قرار گرفت. در سال 1960 ، Everhart و Thornley ردیاب الکترونی ثانویه را توسعه دادند. حال ، ردیاب الکترونی ثانویه E-T ، ردیاب مسیر اصلی SEM می باشد. سپس SEM وارد مرحله تجاری سازی شد. در سال 1967 ، کنتراست هدایت الکترون که با اندرکنش الکترون ها ایجاد شده بود و الگوی شبکه بندی مشاهده شد. این کنتراست به تکنولوژی پر کاربرد EBSD توسعه یافت. در دهه 1980 ، تحلیل EDS/WDS به SEM پیوست. به علت آشکارکننده های تجاری کامل مختلف پیرامون SEM ، کاربرد SEM گسترش زیادی داشته است. در سال 1990 ، SEM وارد عصر تصویر برداری دیجیتال شد.
