مقاله ترجمه شده درباره طراحی تمام جمع کننده مقاوم به خطای زمان واقعی برای زمینه های مهم – سال 2016


مشخصات مقاله:


عنوان فارسی مقاله:

طراحی تمام جمع کننده مقاوم به خطای زمان واقعی برای زمینه های مهم


عنوان انگلیسی مقاله:

Real-time fault tolerant full adder design for critical applications


کلمات کلیدی مقاله:

جمع کننده، تک خطا، دو خطا، جمع کننده خود آزما، مقاوم به خطا، قابلیت اطمینان


مناسب برای رشته های دانشگاهی زیر:

مهندسی برق


مناسب برای گرایش های دانشگاهی زیر:

مدارهای مجتمع الکترونیک، مهندسی الکترونیک و افزاره های میکرو و نانو الکترونیک


وضعیت مقاله انگلیسی و ترجمه:

مقاله انگلیسی را میتوانید به صورت رایگان با فرمت PDF از باکس زیر دانلود نمایید. ترجمه این مقاله با فرمت WORD – DOC آماده خریداری و دانلود آنی میباشد.


فهرست مطالب:

چکیده

1-مقدمه

2-رویکردهای طراحی خود آزما و خودترمیم قبلی

2-1 افزونگی زمانی

2-2 افزونگی سخت افزار

2-2-1 افزونگی مدولار سه گانه (TMR)

2-2-2 افزونگی مدولانه دوگانه (DMR)

2-3 استفاده مجدد از سخت افزار آگاه از پهنای اپراند (عملوند)(OWHR)

2-4 CSA خودآزما

2-5 جمع کننده خودترمیم

3- طرح پیشنهادی

3-1 ایده اصلی

3-2 جمع کننده خودآزمای پیشنهادی با مکان یابی خطا

3-3 جمع کننده خودترمیم پیشنهادی

3-4 نتایج شبیه سازی و مقایسه

3-5 پوشش خطا و ترمیم

3-6 شرایط خطا

3-7 شرایط عاری از خطا

3-8 مقایسه اطمینان پذیری

3-مقایسه با طرح‌های تمام جمع کننده مقاوم به خطای موجود

4-عملکرد طرح تسهیم کننده مقاوم به خطای پیشنهادی

5-نتیجه گیری


قسمتی از مقاله انگلیسی و ترجمه آن:

1. Introduction

Now days, fault tolerant system is very crucial in the critical applications, where the immediate human action is not possible. Space application, defense surveillance, medical supervisory system and other safety related services are the example of such critical applications. The presence of the faults in such applications can destroy the functionality of the overall system. The complexity of integrated circuits is increasing with the advancement of technology. Technology advancement results in reducing the size of integrated circuits. This makes the design more compact and sensitive to the transient faults. The main reason of the presence of transient fault in the integrated circuit is electromagnetic noises, cosmic rays, cross-talk and power supply noise. In addition to this, technology scaling further increases the chances of the presence of permanent fault also. The compact design is good for reducing the noise but it will increase the chance of hardware failure in the advanced processor [1]. It is very difficult to detect these faults during offline testing. Therefore, these problems are the challenges for the researchers working in the field of on-line fault detection and correction techniques.

1-مقدمه
امروزه، سیستم مقاوم به خطا از اهمیت زیادی در زمینه‌های مهم و حیاتی که در آن‌ها اقدامات فوری انسانی امکان پذیر نیست، برخوردار است. زمینه فضایی، نظارت دفاعی، سیستم نظارت پزشکی و سایر سرویس‌های مرتبط با ایمنی و امنیت، نمونه‌هایی از این زمینه‌های مهم می‌باشند. وجود خطاهایی در این زمینه‌ها موجب اختلال در عملکرد و کارکرد کل سیستم می‌شود. پیچیدگی مدارهای مجتمع با پیشرفت فناوری در حال افزایش است. پیشرفت فناوری منجر به کاهش اندازه مدارهای مجتمع می‌شود. این موجب می‌شود تا طرح فشرده شده و به خطاهای گذرا، حساس‌تر شوند. دلیل اصلی مربوط به حضور خطای گذرا در مدار مجتمع، نویزهای الکترومغناطیسی، اشعه‌های کیهانی، تداخل امواج و نویز منبع تغذیه می‌باشد. علاوه بر این، مقیاس فناوری موجب افزایش شانس حضور خطای دایمی می‌شود. طرح فشرده برای کاهش نیز خوب است ولی موجب افزایش شانس خرابی سخت افزار در پردازنده پیشرفته می‌شود (1). به این ترتیب شناسایی این خطاها در طی تست افلاین بسیار سخت است. از این روی این مسائل چالش‌هایی برای محققانی هستند که در زمینه فنون تصحیح و تشخیص خطای آنلاین کار می‌کنند.


 

دانلود رایگان مقاله انگلیسی

خرید ترجمه مقاله

دیدگاهتان را بنویسید